دانشجویان و فعالین خیلی از رشته ها، به خصوص مهندسی، خیلی احتمال داره تا حالا حداقل یکبار با واژه عیب (Fault) برخورد داشته باشند. بد نیست بدونید این زمینه تحقیقاتی یکی از زمینه های بسیار فعال در حال حاضر هست که هم محققین دانشگاهی و هم مهندسین صنعتی در اون فعالیت میکنند. همین جا باید این توضیح رو بدم که تو خیلی از مراجع مرتبط با این حوزه کلمه Fault رو “خطا” ترجمه کردن که با توجه به اینکه Error هم خطا ترجمه شده، ممکنه باعث سردرگمی بشه. در اینجا از کلمه “عیب” استفاده شده تا این موضوع حل بشه.
به خاطر گستردگی مطالبی که تو این زمینه مطرح شده، هر کسی که برای اولین بار با این مفاهیم برخورد میکنه ممکنه با دیدن این همه اصطلاحات و تکنیک ها گیج بشه! به همین دلیل، ما در این سلسله جلسات سعی می کنیم تا حدودی شما را با مفاهیم این زمینه آشنا بکنیم و کسانی که قصد شروع تحقیقات تو این زمینه دارند رو راهنمایی کنیم. با ما همراه باشید…
این مجموعه به صورت دو فصل شامل فصل 1: مقدماتی و فصل 2: پیشرفته ارائه شده است. در صورتیکه قصد خرید فصل ها را به صورت جداگانه دارید شماره فصل را از منوی کشویی که بالای دکمه “افزودن به سبد خرید” است، انتخاب کنید و سپس بر روی دکمه “افزودن به سبد خرید” کلیک کنید تا فصل مربوطه به سبد خریدتان اضافه شود.
مجموعه اول: مقدماتی
در این سری مباحث مقدماتی جهت آشنایی سریع دوستان با اصول و برخی از روش های موجود در این حوزه ارائه شده است. توضیحات و مباحث مربوط به هر جلسه را می توانید در ذیل آن جلسه مشاهده فرمایید.
جلسه اول: مقدمات (1)
در این جا اولین جلسه رو براتون گذاشتیم که مقدماتی رو در مورد سیستم های کنترل تحمل پذیر عیب ارایه می کنیم. تاریخچه و روند تحقیقاتی تو این زمینه خیلی خلاصه بیان شده و اصطلاحات رو تو این زمینه ارایه کردیم. نهایتا هم شمای کلی از یک سیستم تحمل پذیر عیب ترسیم کردیم.
این جلسه یک جلسه مقدماتی هست تا نظرات شما دوستان رو بدونیم. از اونجایی که مباحث زیادی تو این زمینه مطرح شده، اگه دوستان نظری برای ارایه مطالب دارند، هر چه سریعتر به ما اطلاع بدن تا تو جلسات بعد لحاظ کنیم. جهت ارزیابی شما عزیزان جلسه اول رایگان تقدیم میشود.
مدت زمان آموزش: 58 دقیقه
محتویات درس: فیلم با کیفیت 720p، اسلایدهای درس، یک مقاله مروری و یک کتاب
حجم فایل: 128 مگابایت
جلسه اول
جلسه دوم: مقدمات (2)
در جلسه قبل که اولین جلسه از سلسله جلسات مبانی سیستمهای تحمل پذیر عیب بود، به معرفی اجمالی مفاهیم این حوزه پرداختیم.
در این جلسه و در ادامه معرفی این حوزه، به سرفصل های زیر خواهیم پرداخت:
1- انواع عیب: دو دسته بندی برای عیبهای موجود بر اساس محل و چگونگی رخداد عیب ارائه میکنید.
2- ویژگیهای یک سیستم تشخیص عیب مطلوب: ده ویژگی عمده برای بررسی و مقایسه عملکرد روشهای تشخیص عیب رو تشریح میکنیم.
3- روشهای کلی تشخیص عیب: چهار روش عمده تشخیص عیب مورد نقد و بررسی قرار گرفته است.
4- یک مثال عملی: سیستم سه تانک و انواع عیبهای آن به عنوان یک نمونه عملی مورد بررسی قرار گرفته است.
مدت زمان آموزش: 62 دقیقه
محتویات درس: فیلم با کیفیت 720p، اسلایدهای درس و یک کتاب
حجم فایل: 86 مگابایت
پیش نمایش جلسه دوم
جلسه سوم: تشخیص عیب با استفاده از مشاهده گرها
در این جلسه به بررسی استفاده از مشاهده گرها در تشخیص عیب بر پایه مدل می پردازیم. سرفصل های مورد بحث در این جلسه عبارتند از:
1- مقدمه: ابتدا ساختار کلی برای استفاده از مشاهده گرها در تشخیص عیب و تفاوت آن با استفاده معمول (تخمین حالت) رو مورد اشاره قرار می دهیم.
2- مشاهده گر لیونبرگر: این نوع مشاهده گر که بسیار متداول است رو برای تشخیص عیب بسط می دهیم.
3- مشاهده گر UIO: را برای جداسازی اثر ورودی های نامعلوم و عیب مورد بررسی قرار می دهیم.
4- گسترش استفاده از مشاهده گرها در حالت چند ورودی- چند خروجی مورد بررسی قرار گرفته است.
مدت زمان آموزش: 33 دقیقه
محتویات درس: فیلم با کیفیت 720p و یک کتاب
حجم فایل: 89 مگابایت
پیش نمایش جلسه سوم
جلسه چهارم: تشخیص عیب با استفاده از تخمین پارامتر و پریتی
در این جلسه دو روش دیگر از مجموعه روش های تشخیص عیب با استفاده از روش های بر پایه مدل به صورت خلاصه بررسی شده است.
1- تخمین پارامتر: در این روش به جای تخمین حالت ها برای تشخیص عیب (مانند استفاده از مشاهده گرها) از تخمین پارامترهای مدل یک سیستم استفاده می شود. این روش با استفاده از روش های شناسایی سیستم و با فرض اینکه عیوب خود را در پارامترها نشان دهند، معرفی شده است.
2- پریتی: یکی دیگر از روش های معروف و بسیار پر کاربرد در تشخیص عیب است که به صورت های متعددی بازنویسی شده است. در این جلسه به صورت خیلی ساده اصول این روش مورد بررسی قرار گرفته است.
مدت زمان آموزش: 65 دقیقه
محتویات درس: فیلم با کیفیت 720p
پیش نمایش جلسه چهارم
جلسه پنجم: ارزیابی مانده
در جلسات قبل و در ادامه بحث تشخیص عیب با استفاده از روش های بر پایه مدل، چندین تکنیک برای تولید مانده معرفی کردیم. در این جلسه تعدادی از روش های بررسی و ارزیابی مانده ها را معرفی می کنیم. در واقع با ارزیابی مانده تصمیم می گیریم که آیا وجود عیب را اعلام کنیم یا خیر.
مدت زمان آموزش: 64 دقیقه
محتویات درس: فیلم با کیفیت 720p، اسلایدهای درس و یک کتاب
حجم فایل: 89 مگابایت
پیش نمایش جلسه پنجم
مجموعه دوم: پیشرفته
(تشخیص عیب بر اساس مدل)
در سری اول مبانی سیستمهای کنترل تحملپذیر عیب، یک سلسله مباحث مقدماتی در این حوزه را به صورت خلاصه مطرح کردیم. در این سری و در ادامهی مطالب مطرح شده، تشخیص عیب بر اساس مدل را مورد بحث و بررسی دقیق تر قرار میدهیم. بدین منظور کتاب تکنیک های تشخیص عیب بر اساس مدل نوشتهی پروفسور دینگ مد نظر قرار گرفته است. کتاب را می توانید همراه با جلسه اول دانلود نمایید. این کتاب ضمن سادگی در بیان ( به علت صاحب نظر بودن نویسنده در این زمینه و در نظر گرفتن تنها سیستمهای خطی) حاوی مطالب مهمی در زمینهی تشخیص عیب بر پایهی مدل است. این کتاب به عنوان یک کتاب مقدماتی برای ورود به مباحث استفاده از مشاهدهگرها در تشخیص عیب حاوی مطالب بسیار مفیدی در این زمینه است. سعی ما در این سری این است که بدون درگیر شدن زیاد با ریاضیات، مطالب را به صورت مفهمومی و ساده بیان کنیم. این جلسات به مرور تکمیل خواهد شد.
جلسه اول: فصل های اول و دوم
در این جلسه دو فصل اول کتاب به صورت اجمالی مورد بررسی قرار میگیرد. در فصل اول مقدمات، اصطلاحات، روشهای موجود در حوزهی تشخیص عیب و روند تاریخی تکامل این روشها مطابق مطابق مطالب ارائه شده در این کتاب معرفی شدهاند. در فصل دوم، مباحثی که در فصول آینده ارائه خواهند شد به صورت خلاصه آورده شده است.
مدت زمان آموزش: 45 دقیقه
محتویات درس: فیلم با کیفیت 720p، اسلایدهای درس و کتاب
حجم فایل: 37 مگابایت
جلسه اول
جلسه دوم: فصل سوم (1)
در این جلسه فصل سوم کتاب را شروع و مباحث مدلسازی سیستم در حالت ایدهآل، مدلسازی با در نظر گرفتن نویز، اغتشاش و عدم قطعیت را بررسی میکنیم. مدلسازی انواع عیب و روشهای تبدیل نمایش آنها به یکدیگر بخش بعدی این جلسه است. نهایتا مدلسازی عیب در سیستمهای حلقه بسته مورد مطالعه قرار گرفته است. در واقع پایههای ریاضی برای ورود به بحث تشخیص عیب بر اساس مدل در این فصل ارائه شده است.
مدت زمان آموزش: 38 دقیقه
محتویات درس: فیلم با کیفیت 720p و اسلایدهای درس
حجم فایل: 32 مگابایت
پیش نمایش جلسه دوم
جلسه سوم: فصل سوم (2)
در ادامه مباحث فصل سوم، روش Coprime Factorization به عنوان اولین روش برای تشخیص عیب بر اساس مدل آورده شده است. مدل تعدادی از سیستمهای عملی که در ادامه کتاب مورد استفاده قرار گرفته، بخش پایانی مباحث این جلسه را تشکیل میدهد.
مدت زمان آموزش: 36 دقیقه
محتویات درس: فیلم با کیفیت 720p و اسلایدهای درس
حجم فایل: 38 مگابایت
پیش نمایش جلسه سوم
جلسه چهارم: فصل سوم (3)
در این جلسه که آخرین جلسه ارائهی فصل سوم کتاب است، معادلات سیستم پاندول معکوس در حالات مختلف و با در نظر گرفتن عیب معرفی شده است. در ادامه، طراحی سیستم تشخیص عیب با روش Coprime Factorization که در جلسه قبل معرفی شد انجام شده است. نهایتا یک شبیهسازی از این سیستم در نرمافزار MATLAB انجام شده تا عملکرد سیستم و نحوهی شبیهسازی آن مورد بررسی قرار بگیرد.
مدت زمان آموزش: 35 دقیقه
محتویات درس: فیلم با کیفیت 720p، اسلایدهای درس و فایلهای شیبهسازی
حجم فایل: 58 مگابایت
پیش نمایش جلسه چهارم
جلسه پنجم: فصل چهارم (1)
در این جلسه فصل چهارم کتاب را شروع میکنیم. مباحث تعریف قابلیت آشکارسازی، شروط و روشهای بررسی این قابلیت برای انواع عیوب جمعشونده و ضربشونده ارائه شدهاند. همچنین تغییرات اولیه در خروجی سیستم ناشی از عیب را بررسی میکنیم و در مورد اثرات سیگنال تحریک در آشکارسازی انواع عیب بحث خواهیم کرد.
مدت زمان آموزش: 38 دقیقه
محتویات درس: فیلم با کیفیت 720p و اسلایدهای درس
حجم فایل: ۲۹ مگابایت
پیش نمایش جلسه پنجم
جلسه ششم: فصل چهارم (2)
در این جلسه در مورد قابلیت جداسازی و شناسایی عیوب و شروط هر کدام بحث خواهیم کرد. جداسازی ضعیف عیوب ضربشونده را تعریف میکنیم. به مراحل تشخیص عیب که شامل آشکارسازی، سپس جداسازی و نهایتا شناسایی آن است اشاره خواهیم کرد.
مدت زمان آموزش: 43 دقیقه
محتویات درس: فیلم با کیفیت 720p و اسلایدهای درس
حجم فایل: 33 مگابایت
پیش نمایش جلسه ششم
جلسه هفتم: فصل پنجم (1)
در این جلسه فصل پنجم کتاب تحت عنوان روشهای پایهای تولید مانده را شروع خواهیم کرد. تولید مانده با مشاهدهگر با استفاده از تابع تبدیل و همچنین معادلات فضای حالت سیستم مورد بررسی قرار گرفته است. خواص و فرمهای نمایش مانده (فرم طراحی و فرم پیادهسازی) مباحث انتهایی این جلسه هستند.
مدت زمان آموزش: 40 دقیقه
محتویات درس: فیلم با کیفیت 720p و اسلایدهای درس
حجم فایل: 31 مگابایت
پیش نمایش جلسه هفتم
جلسه هشتم: فصل پنجم (2)
مباحث مربوط به تولید مانده با روشهای فیلتر آشکارسازی عیب و مشاهدهگر تشخیصی در این جلسه مطرح شدهاند. مشخصات جواب مشاهدهگر از جمله شرایط وجود جواب، حداقل مرتبه سیستم و ویژگیهای جواب نیز مورد بررسی قرار گرفتهاند.
مدت زمان آموزش: 42 دقیقه
محتویات درس: فیلم با کیفیت 720p و اسلایدهای درس
حجم فایل: 33 مگابایت
پیش نمایش جلسه هشتم
جلسه نهم: فصل پنجم (3)
دو الگوریتم محاسباتی و جبری برای بدست آوردن جوابهای مشاهدهگر در ابتدای این جلسه معرفی شدهاند. روش پریتی و خواص آن به صورت خلاصه در ادامهی این جلسه آورده شده است.
مدت زمان آموزش: 41 دقیقه
محتویات درس: فیلم با کیفیت 720p و اسلایدهای درس
حجم فایل: 33 مگابایت
پیش نمایش جلسه نهم
جلسه دهم: فصل پنجم (4)
رابطهی بین انواع روشهای معرفی شده برای تشخیص عیب در فصل پنجم کتاب (شامل فیلتر آشکارساز عیب، مشاهدهگر تشخیصی و پریتی) در این جلسه آورده شده است. این جلسه دید بهتری از این روشها را در اختیار قرار میدهد که بتوان با توجه به شرایط موجود مسئله در مورد روش حل تصمیمگیری کرد. شبیهسازیهای دو مثال کتاب پایان بخش مطالب این جلسه هستند.
مدت زمان آموزش: 38 دقیقه
محتویات درس: فیلم با کیفیت 720p، اسلایدهای درس و فایلهای شبیهسازی
حجم فایل: 37 مگابایت
پیش نمایش جلسه دهم
جلسه یازدهم: فصل ششم (1)
در این جلسه فصل ششم از کتاب را شروع می کنیم که در آن مشاهده گرهایی را معرفی می کند که اثر ورودی ناشناخته در سیگنال مانده را به طور کامل حذف می کنند. ابتدا اهداف طراحی در این نوع مساله تبیین و سپس روابط مورد نظر آورده شده است. نهایتا یک شرط عمومی برای اثبات وجود جواب مساله مورد بررسی قرار گرفته است. این جلسه زیربنای مباحث مربوط به فصل ششم را تشکیل می دهد.
مدت زمان آموزش: 42 دقیقه
محتویات درس: فیلم با کیفیت 720p، اسلایدهای درس و فایل شبیهسازی
حجم فایل: 54 مگابایت
پیش نمایش جلسه یازدهم
جلسه دوازدهم: فصل ششم (2)
در ادامه مباحث جلسه قبل، دو شرط دیگر برای اثبات وجود جواب مساله ی جداسازی ورودی ناشناخته آورده شده است. ایده ی روش فرکانسی برای طراحی این نوع مشاهده گر که یک روش ساده و در عین حال کاربردی است مطرح و الگوریتم آن معرفی شده است.
مدت زمان آموزش: 42 دقیقه
محتویات درس: فیلم با کیفیت 720p، اسلایدهای درس و فایل شبیهسازی
حجم فایل: 54 مگابایت
پیش نمایش جلسه دوازدهم
جلسه سیزدهم: فصل ششم (3)
در این جلسه فیلتر آشکارساز عیب با ورودی ناشناخته معرفی شده است. روش تعیین ساختار ویژه برای طراحی این نوع فیلتر، شرایط وجود جواب و الگوریتم های آن بیان شده اند. در انتهای جلسه برای شروع روش هندسی در طراحی این نوع مشاهده گر (که در جلسه بعد آورده خواهد شد) یافتن بهره برای تولید زیرفضای کنترل ناپذیر بیشینه بحث شده است.
مدت زمان آموزش: 49 دقیقه
محتویات درس: فیلم با کیفیت 720p و اسلایدهای درس
حجم فایل: 69 مگابایت
پیش نمایش جلسه سیزدهم
جلسه چهاردهم: فصل ششم (4)
در این جلسه ادامه ی روش هندسی برای طراحی فیلتر آشکارساز عیب با جداسازی کامل ورودی ناشناخته آورده شده است. الگوریتم طراحی و شرایط وجود جواب نیز مورد بررسی قرار گرفته اند. سپس الگوریتم طراحی تولید کننده ی مانده حداقل مرتبه به روش هندسی ارائه شده است. نهایتاً مثال 6-4 کتاب مورد بررسی قرار گرفته و شبیه سازی شده است.
مدت زمان آموزش: 52 دقیقه
محتویات درس: فیلم با کیفیت 720p، اسلایدهای درس و فایل های شبیهسازی
حجم فایل: 66 مگابایت
پیش نمایش جلسه چهاردهم
جلسه پانزدهم: فصل ششم (5)
در این جلسه دو روش برای طراحی مشاهده گر تشخیصی با جداسازی کامل ورودی ناشناخته ارائه می شود. روش اول از مفهوم ریاضیاتی به نام قلم ماتریس استفاده می کند و با تبدیل سیستم به فرم کانونیکال کرونکر سعی در طراحی مشاهده گر دارد. روش دوم استفاده از مفهوم متداول در کنترل مقاوم به نام مشاهده گر ورودی نامعلوم برای طراحی مشاهده گر تشخیصی با ورودی نامعلوم است. تفاوت این دو حوزه، الگوریتم طراحی و شرایط وجود جواب بررسی شده و مثال 6-5 کتاب شبیه سازی شده است.
مدت زمان آموزش: 63 دقیقه
محتویات درس: فیلم با کیفیت 720p، اسلایدهای درس و فایل های شبیهسازی
حجم فایل: 76 مگابایت
پیش نمایش جلسه پانزدهم
جلسه شانزدهم: فصل ششم (6)
مباحث زیر در این جلسه مطرح شده اند:
1- روش عددی برای طراحی مشاهده گر تشخیصی با ورودی ناشناخته
2- فضای پریتی با ورودی ناشناخته
3- روش پوچی ماتریس
4- تولید مانده با حداقل مرتبه: که خود شامل دو بخش است؛ روش هندسی و یک روش جایگزین
مدت زمان آموزش: 55 دقیقه
محتویات درس: فیلم با کیفیت 720p و اسلایدهای درس
حجم فایل: 68 مگابایت
پیش نمایش جلسه شانزدهم
جلسه هفدهم: فصل هفتم (1)
در این جلسه فصل هفتم کتاب را شروع می کنیم که در آن به بحث تولید مانده با افزایش مقاومت نسبت به ورودی های ناشناخته و افزایش حساسیت نسبت به عیب پرداخته شده است. ابتدا این موضوع معرفی و اهداف آن تبیین شده است. محدودیت روش های معرفی شده در فصل ششم و تفاوت آنها با روش های این فصل آورده شده است. در این جلسه و قبل از ورود به مباحث طراحی در جلسات بعد، پیش نیازهای ریاضی این موضوع که بیشتر برگرفته از کنترل مقاوم است در قالب نرم های سیگنال و سیستم، SVD، CIOF، MMP و LMI با تمرکز بر حوزه تشخیص عیب ارائه شده است.
مدت زمان آموزش: 55 دقیقه
محتویات درس: فیلم با کیفیت 720p و اسلایدهای درس
حجم فایل: 75 مگابایت
پیش نمایش جلسه هفدهم
جلسه هجدهم: فصل هفتم (2)
در ابتدای این جلسه نحوه استفاده از فیلتر کالمن در تشخیص عیب به صورت مقاوم آورده شده است. الگوریتم های طراحی به صورت آنلاین و آفلاین بررسی شده است. در ادامه سه معیار عملکرد برای مصالحه بین مقاومت به ورودی های ناشناخته و حساسیت به عیب معرفی شده و رابطه بین آنها بررسی شده است. از این معیارهای عملکرد در ادامه مباحث این فصل برای بهینه سازی عملکرد سیستم تشخیص عیب استفاده شده است.
مدت زمان آموزش: 55 دقیقه
محتویات درس: فیلم با کیفیت 720p ، فایل شبیه سازی و اسلایدهای درس
حجم فایل: 76 مگابایت
پیش نمایش جلسه هجدهم
جلسه نوزدهم: فصل هفتم (3)
در این جلسه انتخاب بهینه ی ماتریس (بردار) پریتی با بهینه سازی معیارهای عملکرد مختلف مورد بررسی قرار گرفته است. مساله ی بهینه سازی در قالب یک مساله ی مقدار ویژه – بردار ویژه تعمیم یافته معرفی شده است. ماتریس پریتی و مقدار بهینه برای معیارهای عملکرد مختلف معرفی و مقایسه شده اند. یک الگوریتم برای انتخاب مرتبه ی بهینه ی پریتی ارائه شده است. در انتهای جلسه یک سری نکات در مورد تفاوت انتخاب ماتریس یا بردار پریتی، ارتباط نتایج به دست آمده با مشاهدهگرها آورده شده است.
مدت زمان آموزش: 62 دقیقه
محتویات درس: فیلم با کیفیت 720p و اسلایدهای درس
حجم فایل: 84 مگابایت
پیش نمایش جلسه نوزدهم
جلسه بیستم: فصل هفتم (4)
در این جلسه ابتدا به بحث شناسایی بهینه عیب پرداخته و آن را در قالب یک مساله تطابق مدل بیان می کنیم. سپس طراحی تولید کننده ی مانده با مصالحه H2/H2 معرفی شده و ارتباط آن با انتخاب بهینه ی بردارهای پریتی که در جلسه قبل ارائه شد، بیان شده است. در همین راستا مثال 7-2 کتاب بررسی شده است. در انتها مباحث مربوط به طراحی فیلتر آشکارساز عیب (FDF) به کمک نامعادله های ماتریسی خطی (LMI) و با مصالحه H2 به H2 آورده شده است.
مدت زمان آموزش: 61 دقیقه
محتویات درس: فیلم با کیفیت 720p و اسلایدهای درس
حجم فایل: 84 مگابایت
پیش نمایش جلسه بیستم
جلسه بیست و یکم: فصل هفتم (5)
این جلسه با معرفی اندیس -H و نحوه ی محاسبه ی آن آغاز شده است. سپس طراحی فیلتر آشکارساز عیب با مصالحه ی H2 به -H∞ ، H به -H و ∞H به -H در یک بازه فرکانسی محدود در قالب مسائل بهینه سازی بیان شده است. قضایا و الگوریتمهای مربوط به طور مفصل بحث و مثال 7-4 شبیه سازی شده است.
مدت زمان آموزش: 60 دقیقه
محتویات درس: فیلم با کیفیت 720p ، فایل شبیه سازی و اسلایدهای درس
حجم فایل: 83 مگابایت
پیش نمایش جلسه بیست و یکم
جلسه بیست و دوم: فصل هفتم (6)
مفهوم حل یکپارچه و همچنین طراحی بهینه ی فیلتر آشکارساز عیب با معیار ∞Hi/H در این جلسه بیان شده اند. همچنین فرم کلی حل یکپارچه با استفاده از CIOF توسعه یافته آورده شده است. مثال 7-6 به صورت خلاصه مورد بررسی قرار گرفته است.
مدت زمان آموزش: 69 دقیقه
محتویات درس: فیلم با کیفیت 720p و اسلایدهای درس
حجم فایل: 92 مگابایت
پیش نمایش جلسه بیست و دوم
این مجموعه به صورت دو فصل شامل فصل 1: مقدماتی و فصل 2: پیشرفته ارائه شده است. در صورتیکه قصد خرید فصل ها را به صورت جداگانه دارید شماره فصل را از منوی کشویی که بالای دکمه “افزودن به سبد خرید” است، انتخاب کنید و سپس بر روی دکمه “افزودن به سبد خرید” کلیک کنید تا فصل مربوطه به سبد خریدتان اضافه شود.
مطالعه بیشتر
جليل
سلام ببخشيد من جلسه دوم و پنجم از سري مقدماتي رو خريدم ولي هرچي با برنامه اي كه گفتيد باز كنيم اين فايل هاي .zxp رو باز ميكنم پلي نميشه و اكتبو نميشه ، خيلي ضروري هست كارمم ميشه راهنماييم كنيد؟ يا ميشه فايلاي معمولي مثله بقيه قسمتهاش رو در اختيارم بزاريد؟ ممنون
مدیر سایتادمین سایت ( مالک تایید شده )
@جليل,
سلام
شما کد فعالسازی رو وارد میکنید؟
لطفا برای پیگیری های بعدی به شماره زیر در تلگرام پیام بدید
09162963870
محسن
با سلام
دکترجان میشه جلسه ای آموزشی در جهت تشخیص عیب با استفاده از رویتگر sdre به همراه نحوه ی کد نویسی بر روی یک سیستم غیر خطی داشته باشیم؟
بنده هم به نوبه ی خودم خیلی وقت هست منتظر این کلیپ آموزشی هستم.
مجید غنی ئی زارچ
@محسن,
سلام خدمت شما دوست عزیز، در حال آماده سازی یک مجموعه تشخیص عیب با استفاده از مشاهده گرها هستم. سعی میکنم به صورت فوق العاده روتیگر مد نظر شما رو هم بررسی کنم. موفق باشید
حسین
سلام
عیدتون مبارک
من و دوستم هنوز منتظر این بخش هستیم. بابت تلاش و زحمات شما سپاسگذاریم.
مجید غنی ئی زارچ
سلام، عید شما هم مبارک
چشم، امیدوارم به زودی 🙂
موفق باشید
سوشا
در مورد رویتگر SDRE هم برای تشخیص عیب یک جلسه آموزشی تشکیل بشه. تشکر
مجید غنی ئی زارچ
@سوشا,
با سلام،
این موضوع حتما برای ادامه مباحث در نظر گرفته خواهد شد.
ممنون از پیگیری شما
جابر
سلام و وقت بخیر
میشه در مورد رویتگر SDRE هم برای تشخیص عیب یک جلسه آموزشی تشکیل بشه.
ممنون و سپاس
مجید غنی ئی زارچ
@جابر,
سلام،
فعلا به علت درگیری کارهای دانشگاه قادر به ارائه مطلب جدید نیستم. ایشالا مطلب مورد نظر شما در سری بعد حتما گنجانده خواهد شد.
ممنون از توجه شما
عبدالله کاشانی
با سلام
کاش حالا که قیمتها رو تغییر کاهش دادید برای کسانیکه سه جلسه اول رو قبلا خریده اند یخ تخفیفی در نظر می گرفتید
مدیر سایتادمین سایت ( مالک تایید شده )
@عبدالله کاشانی,
سلام
چشم.
یاسمن
با سلام
آقای دکتر با توجه به اینکه حدود سه ماه از انتشار جلسه اول بخش فالت گذشته، آیا ناتمام میمونه؟
با آرزوی موفقیت
مجید غنیی
@یاسمن,
با سلام و با تشکر از پیگیری شما
به خاطر یک سری مسائل تا حالا موفق نشدم ادامه بدم، ولی امیدوارم به زودی بتونم این سری رو تکمیل کنم. در حال ضبط جلسات بعدی هستم. به امید خدا تا ماه آینده تکمیل میشه.
موفق باشید
عبدالله
سلام دوست عزیز
من هم یه سوال دارم؟
چرا اسم آقای دکتر رو ننوشتید؟
این درست مثل اینه که آدم یه کتاب چاپ کنه ولی اسم مولف روش نباشه!!!!
مدیر سایتادمین سایت ( مالک تایید شده )
@عبدالله,
سلام
روی نقطه خاصی دست گذاشتین 🙂
راستش اون اوایل که اصلا نمیشد اسممون رو مطرح کنیم به دلایل امنیتی 🙂
اما من خودم احتما تا یکی دو ماه دیگه اسم و فامیل و رزومه و مقالات رو به صورت کامل میزنم که قابل پیگیری باشه. بقیه دوستان هم یکم فعلا در مطرح کردن روزمه خودشون شک دارن اما انشاالله وقتی این سایت اعتبارش بیشتر شد و کیفیت کارمون رو به بقیه نشون دادیم اونوقت باعث افتخاره و اسامی و روزمه ها هم به صورت کامل اعلام خواهد شد.
با همه این اوصاف دوست خوبم آقای دکتر اسداللهی با بیان اسمش مشکلی نداره و توی سایت هم به کارنامه ایشون هست. حتی ایشون اجازه دادن که اگه کسی در رتبه یک بودنشون شک داره یوزنیم و پسوردشون رو بدیم و خودشون به سایت سازمان سنجش مراحع بکنن.
به هر حال ازین بابت از شما عذرخواهی میکنیم.
درود
یاسمن
درود و خدا قوت
ضمن آرزوی سلامتی برای شما،سوالی دارم که البته تکراری هست و اون اینکه چرا بعد ازحدود یک ماه جلسات فالت ادامه پیدا نکردند؟!
و لطفا مباحث روی سیستم های غیرخطی با عیب های همزمان سنسور و عملگر و در حضور اغتشاش و نامعینی متمرکز بشه.
به امید ادامه روند کار…
و
سپاس از توجه شما
مدیر سایتادمین سایت ( مالک تایید شده )
@یاسمن,
سلام و درود
راستش منم دائما دارم ازشون میخوام ولی مشکلاتی پیش اومد که نشد ما واقعا از شما عذرخواهی میکنیم. جلسه دوم ضبط شده فقط باید ویرایش بشه.
نظر شما رو انتقال میدم.
سپاسگزارم
یاسمن
سپاس از پاسخ مثل همیشه سریع شما که نشان فرهیختگی است و قابل ستایش.
به امید شادی و سلامتی برای شما عزیزان خوب و پرتلاش
مدیر سایتادمین سایت ( مالک تایید شده )
@یاسمن,
لطف دارید. ممنون. امیدوارم این موضوع مورد رضایت شما قرار بگیره
یاسمن
ضمن درود به شما عزیزان پر تلاش خواستم ببینم چرا جلسات فالت ادامه پیدا نکرد؟
کاش سرفصل های کل دوره رو در جلسه اول مطرح می فرمودین.
با آرزوی شادی برایتان
مدیر سایتادمین سایت ( مالک تایید شده )
@یاسمن,
سلام و درود
از شما بابت پیگیریتون بی نهایت سپاسگزاریم.
راستش آقای دکتر که جلسه اول رو آماده کرده بودن سرما خوردن و خب نتونستن جلسات بعد رو آماده کنن. از این هفته قراره بقیه جلسات رو قرار بدن. در مورد سر فصل ها من به ایشون قضیه رو انتقال میدم
درود